摘要: 目的 探讨X性连锁少汗性外胚层发育不良(XLHED)家系中ED1基因突变。方法 收集2个X性连锁少汗性外胚层发育不良家系外周血标本;采用聚合酶链反应(PCR)结合DNA直接双向测序的方法。结果 家系1中ED1基因的第8个外显子下游与内含子8交界处存在一个新的剪接点缺失突变(IVS8+5 del G)。家系2中第9个外显子处存在一个错义突变(A959G)。这些突变未在两个家系的正常人及188例无关正常对照者中出现。结论 中国人ED1基因突变可引起XLHED,且IVS8+5del G为一个新的突变。
陈建军, 杨森, 宋映雪, 熊晓燕, 张安平, 何平平, 高敏, 李月彬, 林达, 黄薇, 张学军. X性连锁少汗性外胚层发育不良家系ED1基因突变检测[J]. 中华皮肤科杂志, 2003, 36(10): 553-555.
CHEN Jian-jun, YANG Sen, SONG Ying-xue, XIONG Xiao-yan, ZHANG An-ping, HE Ping-ping, GAO Min, LI Yue-bin, LIN Da, HUANG Wei, ZHANG Xue-jun. Mutations in ED1 Gene of Two Pedigrees with X-linked Hypohidrotic Ectodermal Dysplasia[J]. Chinese Journal of Dermatology, 2003, 36(10): 553-555.